半导体晶圆玻璃喷墨打点不良标记 替代传统探针打点

蓝茵高精度晶圆打点喷墨系统解决了研发测试阶段的手动不良品涂标记方式不再适用于量产后的生产需求,以及大多数设备无法做到的超精细标记的难题,还确保了在晶圆产品上自动高效识别不良品,高精度、高可靠性的涂黑标记的无缝衔接。

晶圆不良标记喷墨成品图


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